该装置的扫描电子显微镜图像。它包括一个用于光准直的抛物面透镜和一个扭曲光的扭曲轴棱镜光学元件。在期刊Optics Letters中,Lightman 及其同事描述了他们如何将微型多组件光束整形器直接制造到光纤上。该设备将普通激光转变为带有轨道角动量的扭曲贝塞尔光束,并且不会像典型光束那样在空间中扩展。研究人员在不到 5 分钟的时间内制造了整个微型光学设备。光纤连同微型光学设备的成本不到 100 美元,大约是执行类似功能的标准显微镜物镜成本的十分之一。“直接从光纤创建贝塞尔光束的能力可用于粒子操纵或STED显微镜,这是一种产生超分辨率图像的技术,”Lightmant表示。“我们的制造方法还可用于 ...
磁力显微镜、电子显微镜、中子断层扫描等。(1)贝特粉末图纹法贝特粉末图纹法是较早的磁畴观察方法,也是较简单的磁畴观察方法。 是在磁性材料表面涂上足够细的铁磁粉悬浮胶,然后铁磁粉在磁畴结构产生的局部杂散磁场的作用下,分布成一定的图案,而这些图案反映材料的表面。通过普通光学显微镜可以直接观察样品的磁畴结构和图案。同时可以对材料施加磁场,观察在磁场作用下磁畴结构的变化。贝特粉图法的分辨率受铁磁粉粒径等因素的限制,因此存在分辨率低的缺点。但由于该法设备简单,适用范围广,是一种沿用已久的观察法。(2)磁力显微镜法磁力显微镜观察磁畴主要是通过磁探针与磁畴产生的局部杂散磁场相互作用产生的磁力梯度分布来检测磁 ...
装饰在光学或电子显微镜下成像,允许在多畴铁磁体或被磁场穿透的超导体中分辨非常小(100nm)的磁性特征。继Bitter之后,各种磁场成像技术得到了发展。目前应用广泛的仪器是磁力显微镜。在MFM中,磁性对比是通过铁磁尖端与样品杂散微磁场之间的静磁相互作用来实现的,特别是在畴边界处。在测量过程中,探头尖端垂直于样品表面振动,并且由于杂散磁场的存在,振动的频率和振幅会发生梯度变化。MFM成像可以达到小于10 nm的空间分辨率,并且可以通过先jin的尖端技术来提高分辨率,例如通过聚焦离子束铣削来修饰探针尖端。MFM的优点包括相对较高的空间分辨率,操作简单,样品制备简单。缺点是很难直接从MFM图像中提取 ...
利用NV自旋的磁光成像技术磁成像技术通常以其空间和时间分辨率为特征,但灵敏度、场干扰、样品损坏、视场、成本和易用性等标准对于广泛的适用性至关重要,这推动了人们对先jin材料和应用中磁性理解的未来发展。电子和x射线显微镜可以提供低至几纳米的高空间分辨率,但耗时,需要昂贵的复杂仪器,仔细的样品制备和高真空环境。磁力显微镜(MFM)通常用于表征磁性器件,但由于其侵入性磁尖,固有的速度很慢,不适合成像脆弱的磁化状态。另一方面,磁光克尔效应显微镜(MOKE)是一种非侵入性光学技术,在进一步了解自旋霍尔效应和zui近在环境条件下形成的磁性斯基米子气泡方面发挥了巨大作用。MOKE的主要限制是它适用于表现出强 ...
法,包括扫描电子显微镜与极化分析,磁力显微镜,光电电子显微镜,和扫描近场磁光克尔显微镜。因此理想情况下,可以结合时间和空间分辨率来研究单个纳米结构的磁化动力学。图1飞秒时间分辨光学克尔显微镜如图1所示。泵浦和探针激光脉冲由钛蓝宝石再生放大器获得,以5 KHz的重复率工作,以避免累积热效应。持续时间为150fs(泵)和180fs(探头)。泵浦光束中心波长为790nm,探测光束中心波长为395 nm,在1.5 mm厚的硼酸钡晶体中通过二次谐波产生。两个独立的望远镜允许一个人调整每个光束的模式,以获得对样品的zui佳聚焦。通过光延迟线后,泵浦光束与线偏振的探测光束共线。聚焦是使用一个标准的显微镜物镜 ...
伦兹模式透射电子显微镜(TEM)和带极化分析的扫描电子显微镜(SEMPA)可用于高分辨率探测磁畴和磁化。然而,这种方法需要昂贵的电子光学器件和真空条件,这限制了应用范围。在原子力显微镜(atomic force microscopy, AFM)广泛应用于纳米尺度研究的基础上,磁力显微镜(magnetic force microscopy, MFM)可用于磁成像。然而,MFM不能直接测量材料的磁化强度,只能检测表面附近的磁杂散场。此外,为了避免影响TEM和SEMPA中的电子运动,几乎没有施加外磁场。在MFM技术中,外磁场下的测量应谨慎处理,以免磁化悬臂梁受到损伤。此外,当样品为软磁材料时,磁尖会 ...
高压系统基于电子显微镜的高分辨率成像技术,如带偏振分析的二次电子显微镜(SEMPA),或光子发射电子显微镜(PEEM)或使用磁探针的技术(磁力显微镜(MFM)或自旋极化扫描隧道显微镜(STM),通常局限于小的外部磁场。磁光显微镜没有这样的限制。然而,由于传统(远场)光学显微镜的横向分辨率受到衍射的限制,大约只能达到光波长的一半,因此纳米结构只能通过x射线显微镜或扫描近场光学显微镜(SNOM)在可见光范围内成像。用于磁光研究的相当紧凑和振动隔离的特高压室连接到配备薄膜制备设施的特高压系统,以及用于表征薄膜结构和形态的STM和低能电子衍射(LEED)。结合极性和纵向MOKE, kerr显微镜和Sa ...
不同的光学和电子显微镜技术来表征它们。哪些实验需要FYLA的超连续谱激光器?我们进行荧光寿命测量来表征混合纳米颗粒-单分子样品的耦合,为此我们需要具有高重复率p的脉冲激光器。为了进行这种表征,我们使用了皮秒p FYLA SCT 超连续激光器,其输出450 - 2300nm,重复频率为40MHz。我们将FYLA SCT与AOTF耦合以选择我们需要的不同波长,并使用不同的清理滤波器进一步对其进行光谱过滤,因为具有清晰的谱线对于单分子实验非常重要。然后将FYLA SCT光纤激光器直接输入到自制的共聚焦荧光显微镜的激发臂中。光子纳米系统图像组的设置。光纤耦合的FYLA将SCT白色激光引导到自制光学共聚 ...
畴观测方法。电子显微镜法电子显微镜法主要是通过分析电子束在磁性材料表面反射或透过磁性材料时受磁性材料中磁畴产生的局部散磁场的影响而产生的反射或散射电子束的图像来探测磁性材料的磁畴结构。电子显微境法根据具体的工作原理的不同还分为多种,目前常用于磁畴观测的主要有电子镜式显微镜、洛仑兹显微镜和扫描式电子显微镜等。电子显微镜法具有很高的分辨率因此可对畴壁等磁畴的精细结构进行研巧,可探测得到较多的磁畴信息,但它对强磁场下的磁畴动态变化的分辨率较低,且设备的成本较高操作千分复杂,因此不能被广泛运用到磁畴结构的研巧中。磁力显微镜法磁力显微镜观测磁畴主要通过磁性探针与磁畴产生的局部散磁场之间相互作用产生的磁力 ...
槽边缘的扫描电子显微镜(SEM)截面图(图2(c))。由于PL显微照片的高分辨率,我们可以轻松测量PL-P1边缘效应的范围,我们观察到全宽半高(FWHM)约为4.6μm。从SEM截面图可以很容易地识别出,P1边缘PL效应的范围远远超过了由于底层钼层导致的CIGS吸收材料的阶梯。考虑到钼侧壁的载流子提取面积(厚度约400nm)的增加,很难解释在约4.6μm范围内30%的光致发光猝灭。图1. 标准P1激光划线中异常光致发光观察。(a) P1和P2(底部)烧蚀线(顶部)的光学显微照片以及从同一位置捕获的高光谱显微照片中提取的PL强度图(底部);(b) P1和P2划线(顶部)的单色(980 nm处的P ...
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