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中文:椭圆偏振测量术;英文:ellipsometry
关键词
椭圆偏振测量术
ellipsometry
解释
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简称“偏振测量术” “椭偏术”。利用椭圆偏振光在遇到样品被反射散射或透射时,其偏振状态的改变而实现的一种测试技术。常用于测量薄膜的厚度、折射率等光学常数,并广泛用于生物学、半导体物理、腐蚀与表面科学以及电化学等领域。
相关词条
中文:折射率;英文:refractive index
中文:散射;英文:scattering
中文:折射;英文:refraction
中文:圆偏振光;英文:circular polarized light
中文:椭圆偏振光;英文:elliptical polarized light
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