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中文：海丁格干涉仪；英文：Haidinger interfero- meter

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解释
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 一种基于等倾干涉原理的干涉仪。主要用于检测光学元件平行度。海丁格干涉仪可以作为菲佐干涉仪检验方法的一种补充。
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