中文：射线荧光断层成像；英文：X-ray lumi-nescence tomography

关键词

解释

将微束X射线荧光分析和计算机断层成像技术有机结合，通过测量特征X射线荧光，重构出元素在样品内部的分布图像而不需要对样品进行破坏的切片处理手段。是一种无损检测手段。

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