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理想光学系统的基本参数焦点、焦平面与光轴上无限远点相共轭的点称为焦点。焦点有物方焦点和像方焦点之分，分别用F和F'表示。通过焦点垂直于光轴的平面称为焦平面。焦平面也分物方焦平面和像方焦平面。主点、主平面垂轴放大率（像高和物高之比）为+1的一对共轭平面，称为主平面。主平面和光轴的交点称为主点，物方主点和像方主点分别用H和H'表示。主点到焦点的距离称为焦距，焦距有正负之分，规定的光传播方向为正方向。主点指向焦点的方向为光传播方向时，焦距为正。物方焦距和像方焦距分别用f和f'表示。存在下面关系：当光学系统处于同一介质中时，即n=n’时，物方焦距和像方焦距绝对值相等，符号相反： ...
在二维材料的基面上，晶格周期性与层状体相中的晶格周期性相同。体和ML (2D)之间的主要区别是沿z方向的破坏对称。例如，一些著名的TMDCs体态的原子公式为2H-MX2(H:六边形对称，M: Mo, W, X: S, Se, Te)，由于z向的破晶对称，在ML中变为1H-MX2。因此，二维半导体晶体平面可以用两个平行于基平面的基向量表示。根据单位细胞中矢量的长度和夹角，可以在二维空间中得到4种不同的晶体结构，其中包含5个布拉瓦晶格。应当指出，由于元素周期表中有大量过渡金属，许多过渡金属以层状结构结晶，因此在自然界中可以找到许多tmdc。虽然所有这些层状化合物都具有相同的MX2化学式，但并不是所 ...
轮廓上的点到基面上直线之间的距离。基线可通过zui小二乘线性回归法或zui小包容区域法来计算。总的直线度误差STRt是偏离基线的zui大值之和，即轮廓线峰谷值。对于产品的直线度表示为STRt，物体运动的直线度表示为Txy,Txz。图1.1直线度相关示意图式中，S(x)为沿着X坐标方向的直线度误差。2直线度测量的主要方法（1）直线度基准比较直线度测量是以直线为参考基准，通过机械方法(直尺、直线等)或光学基准(瞄准线、光束等)来实现测 量。应用实例有直线度测试仪、直线度干涉仪、准直望远镜及激光准直仪。（2）斜率积分此方法基于局部斜率测量技术和对高度差求和的表面轮廓重建技术。因此，被测量是角度及距离 ...
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