高端薄膜陷波滤波器的光谱轮廓。可见使用VBG滤波器技术可以实现带宽的显著降低,这使得单级光谱仪进行超低频率拉曼测量成为可能。图2不同BNFs的透射光谱如图3所示。OD>3在488 nm处的滤光片,其特征损耗约为15-20%,532 nm滤光片损耗为15-20%,633 nm滤光片损耗为10-15%,而785 nm滤光片损耗小于10%。BNF光学损耗主要是由光在玻璃体中的散射引起的。光散射与波长的四次方成正比增大。这导致滤光片在较短波长的透射率下降。值得注意的是,图3中的测量是用涂有抗反射(AR)薄膜的滤光片进行的。AR涂层的透射变化决定了滤光片透射曲线的形状。在标记的谐振波长处,BNFs ...
解卷积、中值滤波。直方图拉伸用于改善图像的对比度。Richarson-Lucy解卷积算法是一种迭代方法,通过假设噪声呈泊松分布,从具有已知PSF的成像系统的模糊图像中恢复潜在高分辨率图像。(3)合成超透镜制造。首先通过等离子体增强化学气相沉积(plasma-enhanced chemical vapor deposition, PECVD)将一层600nm厚的a-Si膜沉积到熔融石英衬底上。随后,使用EBL将超表面图案定义到聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)光刻胶里。在接下来的步骤中,图案首先通过剥离转移到铬(Cr)硬掩模,然后通过电感耦合等离子体反应离子蚀刻(ICP-RIE)进一步转移到Si层。然 ...
组非常复杂的滤波器,在频率基础上具有将输入信号进行放大和衰减的能力。对于一个特定的应用,如果仅仅观察这些滤波器本身,我们能够对这些滤波器做出是好还是坏的任何评价吗?当然不能!我们所能说的就是这些滤波器具有某些特性,与中心频率、滚降、和某些增益设置有关,如图1所示。嗯 … 结构系统的动力学特性也十分类似。我们可以确定每一阶模态(每一个滤波器),它具有一个固有频率(中心频率)、阻尼(滚降)、和留数/模态振型(增益)。我们需要非常清楚地认识到,模态振型仅仅是属性,而且我们无法确定某一阶模态是好还是坏,除非我们知道了激励函数 — 也即方程的右侧。另一个例子,比如说我们想要确定一个悬臂梁的刚度。嗯,我们 ...
非是一个带通滤波器,作为一个频域函数,对输入强迫激励进行放大和衰减。如果频响函数的估计受到数字信号处理过程(如,数字化、量化、泄漏、加窗、频响估计方法,等等)的损害或者扭曲,情况又会如何呢???嗯,当然,这会影响到计算得到的响应!模态试验的目的是要提取准确的系统动力学特性。第二点,在频带范围内的激励频谱的水平对系统的响应有直接的影响。图3非常清楚地表明了在频带范围内响应具有明显的变化。因为ADC模数转换器的最大量程设置是由总体频谱决定的,在测得的函数的准确度上将会有很大的差异。实际上,响应谱分量的量级越小,与模数转换过程相关的量化误差的影响就越大,当观察1、3阶模态的响应时,这个情况就特别明显 ...
个低通、模拟滤波器。这么做主要是为了滤除不感兴趣的高频,以防止混叠发生。这些模拟滤波器,常称为抗混滤波器,可以去掉高频成分,否则可能对所测频率分量造成污染。接下来这个数据进入模数转换器(ADC)进行采样,转换为数字的形式。这时有两个注意事项。必须按照一定的频率采样来充分保留时域数据的特征以转换到频域。一般情况下,数据必须按照感兴趣的最高频率的至少2倍以上进行采样,以将其转换到频域表示。如果需要时域数据处理来评价结构的时域特征,那么应按照感兴趣的最高频率的至少10~20倍进行采样以充分描述系统特征。为了正确地描述信号的幅值特征,必须设定ADC至一个合适的电压量程。如果设置不正确,测量信号中的量化 ...
到一个电路(滤波器)的输出电压,如图1所示。(注意这些测量结果是一般意义的,不见得是模态测试经常要得到的典型的力和加速度。)所以我可以将输入电压接入FFT分析仪的1通道,将电路的输出电压接入FFT分析仪的2通道。或者我可以交换这两个通道,因为这确实无关紧要。但是重要的是,想得到的频响函数是电路的输出电压“相对于”施加的输入电压。所以就FFT分析仪而言,输出电压的频谱是相对于一个“参考信号”,输入电压,测得的。图1 – 典型的输入/输出测量布置对FFT分析仪,参考通道将取决于用哪个通道测量输入参考电压 – 无论它是1通道,2通道,或者是其他什么通道。所以测得的频响可能看起来像如图2所示的样子,这 ...
外的线性偏振滤波器没有被画出来,因为它们与偏振分光器对齐。B)相机上的强度响应作为λ/2-板不同方向α的SLM的相位延迟的函数。C) 光学装置的示意图。一个带有SLM的中继系统被添加到显微镜的发射路径中(红色),一个单独的SLM校准路径(绿色)被纳入发射中继系统中。这允许在实验之间进行SLM校准。BE:扩束器,DM:分色镜,L:镜头,LPF:线性偏振滤镜,M:镜子。OL:物镜,PBS:偏振分光镜,TL:管镜。光路如上图2所示,包括一台尼康Ti-E显微镜,带有TIRF APO物镜(NA = 1.49,M = 100),一个200毫米的管状镜头,一个带有SLM的中继系统被建立在显微镜的一个出口端口 ...
问题被称为“滤波器振铃”。我们从一些简单的测量结果开始,来说明这个常见的问题。只要通过测量几个样本结果,用一些简单的例子和插图,就可以观察到并有望更好地理解这种效应。在很多FFT分析仪上都能看到这个问题。为了测量和讨论起见,我将使用一个普通的BRAND XYZ FFT分析仪。用一把力锤和一个响应加速度计在一个典型结构上测得一个典型结果。但是在这里仅仅讨论力输入。有些力脉冲很规则,形状就如同我们期望在教科书中见到的那样。但其他测量结果的力脉冲在脉冲尾部有振荡,好像是一个简单的单自由度系统的响应。这个问题常被称为“滤波器振铃”。这是因为模数转换器(ADC)前端的模拟抗混滤波器可能显示出某种响应,响 ...
所示。用低通滤波器限制所用的激励看起来更加明智,这样就不会激起系统的高频模态。这就有可能允许使用更高灵敏度的低频加速度计,能够提供更好的整体测量结果。这也同样允许更好地利用采集系统中的模数转换器。但重要的是,同样也必须考虑仪器及其相关的信号调理。不必要的传感器载荷作用没有任何意义。为什么要激励和测量不关心的东西呢?现在观察这个测量结果,刚超过500Hz到1KHz之间模态的贡献可能会有一些问题。如果没有测它们,那么在将来某个时候,可能有理由或者需要来评估今天已经采集的之外的东西。那么看看图3中的下一个频带,你会发现,确实有些可能感兴趣的主要模态(躲得过初一,躲不过十五)。所以你可以发现,很多时候 ...
激励上的一种滤波器。显示了FRF,同时显示了各个固有频率上的相应模态振型。所以我们看得出,频率和模态振型对确定系统的响应是非常重要的。尽管振型正确,但频率误差也很重要。如果频率值不正确,则响应将改变,取决于输入谱如何变化。在这种情况下,第2阶模态频率非常精确,同时输入谱在第2阶模态附近相当平坦,则轻微的频率改变只会引起少许的系统响应改变。但是对第1阶模态,频率有10%的误差。对这阶模态,在这个频率范围内输入频谱有明显的改变。所以与第2阶模态相比,频率误差对这阶模态更为重要。所以情况就开始变得非常清楚了,MAC仅仅是向量相关性的一种指示。但这仅仅确定向量相关与否。它不能提供关于模型是否适合于精确 ...
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