扫描近场光学显微镜反射模式局部磁光克尔效应成像洛伦兹模式透射电子显微镜(TEM)和带极化分析的扫描电子显微镜(SEMPA)可用于高分辨率探测磁畴和磁化。然而，这种方法需要昂贵的电子光学器件和真空条件，这限制了应用范围。在原子力显微镜(atomic force microscopy, AFM)广泛应用于纳米尺度研究的基础上，磁力显微镜(magnetic force microscopy, MFM)可用于磁成像。然而，MFM不能直接测量材料的磁化强度，只能检测表面附近的磁杂散场。此外，为了避免影响TEM和SEMPA中的电子运动，几乎没有施加外磁场。在MFM技术中，外磁场下的测量应谨慎处理，以免磁化 ...
用于薄膜的远场和近场磁光学显微镜的多功能特高压系统基于电子显微镜的高分辨率成像技术，如带偏振分析的二次电子显微镜(SEMPA)，或光子发射电子显微镜(PEEM)或使用磁探针的技术(磁力显微镜(MFM)或自旋极化扫描隧道显微镜(STM)，通常局限于小的外部磁场。磁光显微镜没有这样的限制。然而，由于传统(远场)光学显微镜的横向分辨率受到衍射的限制，大约只能达到光波长的一半，因此纳米结构只能通过x射线显微镜或扫描近场光学显微镜(SNOM)在可见光范围内成像。用于磁光研究的相当紧凑和振动隔离的特高压室连接到配备薄膜制备设施的特高压系统，以及用于表征薄膜结构和形态的STM和低能电子衍射(LEED)。结合 ...
解决方案2.近场光束分析仪/聚焦光束分析仪响应波长范围：400~1350nm + 1470~1605nm测量的最小光斑尺寸：1.1um实时测量光斑尺寸（焦点尺寸），焦点位置，椭圆度，光束位置等。 ...
成像测量法，近场扫描光学显微镜测量法和干涉测量法。图1-1 用CCD探测到半导体激光器阵列的“smile”效应2，“smile”效应评价计算方法通过测试获得列阵近场光斑分布之后，需要采用一定的算法确定列阵的“Smile”效应大小及走势，即“Smile”效应评价计算方法。其中，通过光斑强度质心分布表示光斑位置对LDA的“Smile”效应进行描述是国内外通用一种的描述方法。而“Smile”效应值大小，作为现有评价标准中最重要的因素，目前的研究结论中有以下两种计算方法。第一种为标准差计算法，如德国核能开发技术中心介绍LDA“Smile”效应评价方法，其对“Smile”效应值S的定义（如式2-1所示） ...
电子显微镜、近场光学显微镜的方法，这种远场光学显微技术能够满足生物活体样品的观测需要。同样原理，高分辨率的液晶空间光调制器通过精细的相位调制可以产生多光阱，从而对微粒实时操控，由此发展了全息光镊技术。美国Meadowlark Optics 公司专注于模拟寻址纯相位空间光调制器的设 计、开发和制造，有40多年的历史，该公司空间光调制器产品广泛应用于自适应光学，散射或浑浊介质中的成像，双光子/三光子显微成像，光遗传学，全息光镊(HOT)，脉冲整形，光学加密，量子计算，光通信，湍流模拟等领域。其高分辨率、高刷新率、高填充因子的特点适用于生物成像及微操纵的工程中。图1. Meadowlark 2022 ...
的衍射效应对近场束宽的影响；4.由于上述是对整个x,y平面积分，因此此积分是至少在捕获光功率（能量）99%以上区域进行的，配合计算机的图像处理系统可以快速的计算出光束束宽的大小。但此方法对高空间频率的干扰非常敏感，因此在测量中会出现一定的基地噪声，所以在测量的过程中要对噪声做一定的处理。三、远场发散角激光光束的传播符合双曲线定律，光束的远场发散全角可表示为双曲线两条渐近线之间的夹角,光束远场发散角θ定义为光束远场发散全角的一半，通常表示为无穷远处光束束宽和传输距离之比的极限。图3 光束束腰和远场发散角表示束腰直径，表示束腰半径，表示远场发散全角，由激光光学可知，对基膜高斯光束有（表示为基膜高斯 ...
多个传感器，近场需要耗时的扫描或干涉技术。然而常规全光成像导致分辨率损失，这通常是不可接受的。我们打破这种限制的策略包括将一个全新的和基础性的采用上一代硬件和软件解决方案。基本思想是通过使用新型传感器来利用存储在光的相关性中的信息实现一项非常雄心勃勃的任务的测量协议：高速（10–100 fps）量子全光成像（QPI）具有超低噪声和前所未有的性能分辨率和景深的组合。所开发的成像技术旨在：在成为第一个实际可用和适当的“量子”成像技术超出了经典成像模式的固有限制。除了基础感兴趣的是，该技术的量子特性允许在3D上提取信息来自极低光子通量下的光相关性的图像，从而减少场景暴露于光照。对QPI的兴趣是由潜在 ...
，测量远场和近场的磁铁是可能的，而且通常是必要的。在这篇文章中，我将介绍一种新的创新测量技术，通过杂散场测量和偶极子近似来表征远场中的磁体。昊量光电全新推出的M-axis磁偏角磁矩测试仪就是这种测量技术的方法。对于所谓的远场测量，源物体和测量位置之间存在很大的距离。从这个意义上讲，大距离意味着与物体zui大尺寸的至少五倍的距离。在此距离内，永磁体的杂散磁场为偶极子。有了这个假设，就可以根据阵列磁阻传感器元件的测量来表征永磁体。与亥姆霍兹线圈磁通计组合类似，该方法以非常简单、快速和精确的方式提供磁化误差（磁化角）和磁体的开路剩磁。与亥姆霍兹线圈相比，可以构建自动在线测量系统。通过如此快速的测量， ...
素，例如扫描近场磁光模块。为了使扫描激光显微镜同时具有静态和动态成像能力，光学系统采用高斯光束光学(静态模式)和傍轴光学(动态模式)。光学系统示意图如图1所示。图1为了在x-y平面上获得较大的空间分辨率，激光束必须同时准直并填满zui终物镜的孔径。输出光束被扩展，空间滤波，然后聚焦到AO调制器(AOM)。AOM的上升时间与光斑大小成正比。然后光束通过一系列中继透镜(稍后描述)产生准直光束，该光束填充物镜的孔径，在样品表面产生衍射限制斑。为了使扫描激光显微镜同时具有静态和动态成像能力，光学系统采用高斯光束光学(静态模式)和傍轴光学(动态模式)。光学系统示意图如图1所示。然后通过使用精密x-y级移 ...
微镜，和扫描近场磁光克尔显微镜。因此理想情况下，可以结合时间和空间分辨率来研究单个纳米结构的磁化动力学。图1飞秒时间分辨光学克尔显微镜如图1所示。泵浦和探针激光脉冲由钛蓝宝石再生放大器获得，以5 KHz的重复率工作，以避免累积热效应。持续时间为150fs(泵)和180fs(探头)。泵浦光束中心波长为790nm，探测光束中心波长为395 nm，在1.5 mm厚的硼酸钡晶体中通过二次谐波产生。两个独立的望远镜允许一个人调整每个光束的模式，以获得对样品的zui佳聚焦。通过光延迟线后，泵浦光束与线偏振的探测光束共线。聚焦是使用一个标准的显微镜物镜与一个数值孔径0.65的40倍物镜。尝试使用反射物镜来z ...
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