带光源和白光干涉技术,在入射臂采用扫描干涉仪,通过扫描参考镜获得傅里叶光谱实现光谱测量,光源的光谱分布是中心波长为610nm和半峰全宽为170 nm。该技术较大地拓宽了光谱带宽,增强了光强,测量结果更加准确。椭偏仪大多采用透镜将宽带光束聚集在样品表面,然而透射式光学系统设计无法满足宽光谱的测量要求,在深紫外情况下会产生明显的色差问题。直到 2013 年,电子科技大学物理电子学院和中科院微电子所改变聚焦成像系统,研制了基于全反射聚焦光学系统的深紫外(DUV)宽带光谱椭偏仪。该椭偏仪采用基于离轴抛物面镜和平面反射镜的全反射式光学系统实现宽光谱(200-1000 nm)测量,离轴抛物面镜用于产生或聚 ...
光纤)色散的干涉测量方法。脉冲重叠的同步控制允许条纹的zui佳可见性,导致非常高分辨率的色散测量。干涉仪实验布局如下:1.超连续源SCT10002.光纤宽带耦合器50/503.自由空间长度可调臂。4.参考标准光纤5.光子器件表征6.光谱分析仪7.快速示波器“使用脉冲激光器的主要优点是,通过同步控制脉冲重叠,在全VIS-NIR范围内获得条纹的zui佳可见度,分辨率低于1nm。”除了脉冲重叠的优点外,使用SCT1000脉冲超连续源进行干涉测量还有更多的好处。zui直接的是光谱宽度。使用LED需要一个漫长而繁琐的过程,因为每次更换光源时系统都必须重新调整。此外,有些波段是完全无法进入的。这意味着沿不 ...
古.连续偏光干涉法测量波片宽波段延迟量变化[J].激光技术,2012,36(2):258-261.4赵振堂,林天夏,黄佐华,何振江.利用消光式椭偏仪精确测量波片相位延迟量[J].激光杂志,2012,33(3):8-9.5程一斌,侯俊峰,王东光.组合波片的椭圆率角测量方法[J].北京理工大学学报,2019,39(7):750-755.6于德洪,李国华,苏美开,宋连科.任意波长云母波片位相延迟的测量[J].光电子.激光,1990,1(5):267-269.7徐文东,李锡善.波片相位延迟量精密测量新方法[J].光学学报,1994,14(10):1096-1101.8薛庆文,李国华.半阴法测量λ/4波 ...
Sagnac干涉仪,工作在670 nm波长。与传统的偏振分析相比,Sagnac干涉仪对双折射或地形效应等互反效应不敏感。这些影响通常会导致Kerr-SNOM图像中的伪影。为了测试新的可变温度UHV-Sagnac-SNOM的性能,人们使用了一小块垂直磁化和大Kerr旋转(红光约0.41)的TbFeCo磁光(MO)盘。表面轮廓由1毫米宽的轨道组成,由0.6毫米宽和100毫米深的凹槽分隔。沿着磁道,等间距的磁位与相反的磁化被热磁写入。图2图2(a)和(b)显示了MO盘的Sagnac-SNOM图像以及同时记录的地形图像。在地形图像中可以清晰地检测到轨迹和凹槽,这表明在目前的设置下,尖端到样本的距离控制 ...
时产生复杂的干涉场。由于其颗粒状外观,该领域被称为“散斑图案”,对于成像应用,它通常被认为是有害的,因为它叠加了感兴趣的特征。在某些应用中,当应用波前整形时,可以利用散斑图来克服不透明样品中的散射和扩散,但在复杂性和一般适用性方面并非没有限制。因此,散斑使得弹性散射成为光片成像对比度来源的不良候选,因为它引入了不希望的局部强度调制,与样品自身特征产生的强度对比度完全无法区分。尽管如此,薄片弹性散射显微镜已经用于植物根系表型分析,其中图像质量被证明取决于安装基板和样品的浊度。为了减少衬底的诱导背景和散斑噪声,该技术进一步更新为包括偏振滤波和轴向扫描,但代价是降低了显微镜的轴向分辨率。另一种基于弹 ...
如光谱分析和干涉测量。4.短脉冲宽度:激光脉冲的脉冲宽度通常非常短,可以达到皮秒、飞秒甚至阿秒级别。短脉冲宽度使得激光脉冲在超快光学、生物成像和精密测量等领域具有重要应用。三、脉冲激光的应用领域1.科学研究:激光脉冲在科学研究中发挥着重要作用,特别是在超快光学领域。它可以用于研究物质的动态过程、分子振动、电子运动和化学反应等。2.医学:激光脉冲在医学影像学和治疗中广泛应用。例如,飞秒激光可以用于角膜矫正手术,而皮秒激光可以用于皮肤去斑和纹身去除等。3.通信与信息技术:激光脉冲在光通信和信息技术领域具有重要地位。它可以实现高速光纤通信、光存储和激光雷达等应用。4.工业制造:激光脉冲在工业制造中被 ...
常见的磁测量技术一些磁性材料,如纳米线、纳米粒子、薄膜等,由于存在少量磁性材料,通常具有弱磁特征。因此,在确定哪种类型的磁力计zui适合于特定材料时,zui重要的考虑因素之一是它的灵敏度,因为它决定了可以用可接受的信噪比测量的zui小磁矩。测量速度,即测量迟滞回路所需的时间,也很重要,因为它决定了样品吞吐量,对于一阶反转曲线(FORC)测量尤其重要,因为典型的FORC系列可以包含数千到数万个数据点。zui后要考虑的是要进行测量的温度和场范围,这在很大程度上取决于所研究的磁性材料。商用VSM系统可以使用传统电磁铁测量~34 kOe (3.4 T)的场强,也可以使用超导磁体测量160 kOe (1 ...
ehnder干涉仪(MZI)中,可以看到在分束器(BS)分成的两路上,都采用了AOD (Gooch & Housego, Inc.),其中一路由120MHz到200MHz等间隔的多个射频信号进行调制,将单个488nm的连续光分割成104个小光束组成的线性阵列,具有不同的频率和出射(偏转)角度,这里的每束光zui终代表了生成图像中单个水平像素。而另一路通过AOD(Gooch & Housego, Inc.)产生一个本地振荡光束,移频了200MHz。两路光束的模式匹配,zui终在50/50分束器中进行合束,并聚焦在细胞流上。该激发系统所产生的线性阵列激光,每个束光都有一个独特的拍频 ...
.相移型斐索干涉仪的工作原理对于斐索干涉仪,能够观察到参考平面与测量平面间的干涉条纹,能够计算出条纹的位相分布。被测平面的表面轮廓可通过位相分布来确定。下图为使用激光光源的斐索干涉仪基本的光学结构。激光束经物镜、针孔、准直透镜准直,参考光学平面与准直光束垂直,并采用光楔或减反射膜系来抑制它的背面反射。参考和测量面间的干涉条纹经电视摄像机来探测。分束器或λ/4波片以及偏振分束器用来引导光束入射于电视摄像机上。这种斐索干涉仪,需要采用长焦距的准直透镜来获得高的精度。干涉条纹函数I(x,y):式中,I。为背景光强度;y(x,y)为条纹调制函数;φ(x,y)为被测条纹的位相分布函数;φ。为参考面与测量 ...
长度与尺寸测量1.干涉法长度测量的基本定律干涉法长度测量的基本规律是用一个机械长度与一个已知的光的波长对比。一般来说,这种光学方法设计光束两次通过所需的长度。因此,测量单位是半波长,被测长度表示为:式中,λ为波长;i为干涉整数级;f是干涉分数级。利用半波长的倍数表示长度的方法取决于两种或者多种光波的干涉强度,在双光束干涉时表示为:此时,γ为干涉率,z1-z2为两个光束通路之间的几何距离差。因此,一个通路长度的改变会以单位λ/2来改变周期性干涉强度。在上式中位相的不同 2Π/λ/2(z1-z2)可以用真空波长表示为2Π/λ0/2(z1-z2)。此时的n是通路中空气的折射率,n(z1-z2)表示两 ...
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