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一阶、二阶和三阶色散的自相关测量的示例。干涉测量自相关方法的优势在于它们易于实现并且适用于优化大多数多光子成像应用的激发效率。然而，就其无法提取实际脉冲形状和相位而言，使得它们从根本上受到限制，因此，通常假设高斯或双曲正割 (sech) 整形函数。针对这种情况，已经开发出一系列与显微镜非常匹配的更复杂的脉冲测量技术；即频率分辨光开关 (FROG) 和用于直接电场重建的光谱相位干涉测量法 (SPIDER) ，它们能够提供额外的信息。此外，多光子脉冲内干涉相位扫描 (MIIPS)不仅可以测量脉冲，还可以对其进行整形。有许多论文详细介绍了使用执行自相关作为衡量显微镜系统双光子成像性能的效果。4.2a ...
ϕ4分别称为三阶色散 (TOD) 和四阶色散 (FOD)。对于通过色散介质传播的脉冲，谱相位是光程(P) 的函数：方程（8）的色散项用P表示为：一个重要的补充表达式将 GDD 与脉冲持续时间联系起来：如图14 所示为每一阶项的色散效应。偶数阶色散项引起脉冲的对称展宽，比ϕ2高阶的奇数阶色散项引起脉冲扭曲变形。根据符号的不同，在脉冲的前边缘或后缘边添加一个振铃（ring-like）特征。Wollenhaupt 等人提出了一个说明性的例子，其中列出了增加 GDD 量对不同时间长度脉冲的影响，具有 800 nm光源的典型多光子显微镜可能具有高达 4000fs2的 GDD。这个量的GDD 将导致160 ...
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