k以上工作的光电探测器，即所谓的GEIGER模式（盖格模式）。这是通过施加远高于击穿电压Vbreak的反向偏置运行电压VOP来实现的。单个入射光子会产生雪崩，可以很容易地检测和计数。当工作在击穿电压以下时，雪崩效应导致随机增益，该增益与光电流成比例。图1(a)显示了通过用作SPAD的p+-π-p-n+的APD结构的典型河段的横截面。它由四个不同掺杂的区域、两个低掺杂区域π和p以及两个高掺杂区域p+和n+构建。光子吸收发生在相对较大的π区。光子撞击该区域以一定的概率在二极管的低掺杂吸收区域π内产生电子-空穴对。注入吸收区的单个电荷载流子随后在偏置场中被放大为电子雪崩，即所谓的雪崩击穿，如图1(b ...
光功率时，用光电探测器测量采集到的荧光信号(图5n)。荧光在每个窗口位置被选择性激发，表明锥形光纤可以选择性地照亮和收集来自两个受限区域的光(图5m,n和补充图7c)。图6 |利用远场成像进行深度分辨光纤测光的检测方案。a、远场检测荧光支持时分复用，提高深度选择性。b，通过全NA刺激实现远场检测，实现基于反向传播荧光的kT值的纯分模解复用。Fluo，荧光信号;Exc，激发光。讨论在神经科学中，从大脑中表达的活动指示器获取荧光信号是一项强大的技术35,36，可植入式波导系统将极大地造福神经科学领域，该系统可配置为有效和选择性地收集感兴趣区域的光。此外，本文中提出的方法可以在使用远场检测来获得光纤 ...
荧光寿命成像技术在微塑料识别中的应用微塑料问题已成为全qiu关注的环境问题，其在多种生态系统中的累积导致了对野生生物及人类健康的潜在风险。荧光寿命成像（FLIM）技术作为一种先jin的识别手段，在微塑料研究领域显示出巨大的应用潜力。随着塑料使用量的持续增长，微塑料的环境污染问题日益严重。传统的微塑料检测方法往往耗时且效率不高。FLIM技术提供了一种高效的解决方案，能够通过分析微塑料的荧光寿命来快速识别和分类这些污染物。FLIM技术的核心在于使用荧光寿命作为区分不同物质的依据。荧光寿命是指材料被激光激发后，发出荧光持续的时间。在FLIM设备中，一个特定波长的激光被用来激发微塑料样本。样本吸收激光 ...
扫描式荧光寿命成像技术简介一、扫描式荧光寿命成像技术的原理为了更详细地解释扫描式荧光寿命成像技术（FLIM），我们可以从其基本原理着手。FLIM是一种基于荧光寿命差异进行成像的技术，荧光寿命是指荧光分子在激发状态下保持的平均时间长度。这个时间由分子环境、化学组成以及与其他分子的相互作用等因素决定。在FLIM实验中，首先用激光激发样品，然后测量荧光分子返回基态前发射光子的时间。这个时间通常以皮秒到纳秒为单位，对于不同的荧光分子或同一种荧光分子在不同环境中，这个时间是变化的。通过分析这一时间的分布，可以得到荧光分子所处环境的信息。这些信息以颜色编码的形式在图像上显示，从而得到既包含空间分布又含有环 ...
种高灵敏度的光电探测器，能够检测到单个光子事件。它们在激光雷达（LiDAR）系统中的应用显著提高了距离测量和图像捕捉的性能，尤其在要求高分辨率和高精确度的场合。SPAD探测器通过利用雪崩效应放大入射光子产生的光电流来实现单光子检测。这种探测器在被触发后会快速进入雪崩模式，可以检测很低光级的信号。这一特性使得SPAD尤其适用于光线较暗的环境或需要很高灵敏度的应用。这些特性，在激光雷达中起到着如下至关重要的作用增强距离测量能力：在激光雷达系统中，距离的测量依赖于精确地检测发射的激光脉冲被目标反射回来的时间。距离越远，回波光子打到探测器的概率会越小，SPAD探测器的高灵敏度和高的光电转换效率在远距离 ...
(P) 与光电探测器输出电流 (I) 成正比，但电功率与I²成正比，因此考虑光功率时，OCT的SNR和灵敏度测量用20log(Pa/Pb)。7.速度OCT系统的速度取决于到达探测器的光量。速度与系统积累足够光子的时间直接相关。其他限制因素包括各部件自身参数的限制，例如：基于光谱仪的光谱域OCT系统速度受相机传感器和电子元件限制。对于扫频光源傅里叶域OCT，扫频激光源的速度常是限制因素。尽管SS-OCT常因速度被选择，近年来相机速度的进步开始缩小这一差距。如您对Wasatch OCT光谱仪感兴趣，连联系Wasatch Photonics中国代理商：上海昊量光电设备有限公司更多关于Wasatch ...
，并使用单点光电探测器捕捉信号。而在光谱域OCT（SD-OCT）中，则使用宽带激光源（SLD，SLED，超连续谱光源）结合具有线阵相机的光谱仪进行信号采集。相比而言：SS-OCT提供高速和低衰减，但由于扫频源激光器的高成本而价格昂贵。SD-OCT以较低的成本提供更好的分辨率，但在速度和衰减性能上无法竞争。直到2017年,Wasatch公司首批将一种新型相机整合到其Cobra-S OCT光谱仪产品线中，才很大的改善了SD-OCT的速度问题。OCT 概念示意图，展示了如何使用低相干干涉测量技术来确定三维材料内部的结构。使用Wasatch的Cobra-S OCT 光谱仪的SS-OCT、传统 SD-O ...
的反射率到达光电探测器时，反射率被组合并转换为强度（反射率作为矢量/复数）。这个过程称为卷积。光相位不会丢失——它会转换为信号幅度。在数据分析过程中，信号被分解（使用FFT）并提取厚度。测量过程中的反射率变换如图6所示。光学相位永远不会被平均，如果光束有多个具有不同相位的区域，它们将独立地进行卷积和解卷积。图6测量过程中不同厚度区域的测量信号的变换（卷积和反卷积）因此，如果厚度在测量点内随机（或连续）变化，则反卷积后会产生连续的厚度。因此，无法确定涂层厚度。通过减小测量点尺寸–我们减少了厚度变化并使厚度测量成为可能。如果您对膜厚测量仪感兴趣，请访问上海昊量光电官方网站：https://www. ...
的数量。线性光电探测器阵列的光谱灵敏度在350和5000nm之间，帧采集速率为106-107帧/秒，用于电光解码，文献33,34中有记载。使用这种类型的仪器，信噪比可以提高到≈104。传感器带宽在时域记录的信号的傅立叶谱如图4所示。观测到的光谱轮廓是由光学整流产生的太赫兹辐射脉冲的特征。观测到的低频率和高频率分别约为100GHz和800GHz。在图4中，将薄膜LNOI电光探测器的频率响应与太赫兹波源的频谱和根据式(2)计算的MZI调制器带宽进行比较。薄膜LNOI电光太赫兹波探测器的测量频率响应与调制器响应的预测低频和高频极限非常吻合。在高频率(> 500 GHz)下，与计算响应相比，观察 ...
泵浦激光到达光电探测器会严重影响测量结果。因此，在光电探测器前放置蓝光滤光片(Blue Filter)，对波长为532nm的泵浦光进行再次滤波，有效去除其对探测光的干扰。④反射出来的探测激光经过焦距为300 mm的平凸透镜聚焦在另一个光电探测器的光敏面上，该探测器与锁相放大器相连，用于采集实验信号。⑤另外，通过铝膜反射镜将光线反射至CCD相机，可以观察样品表面的质量以及泵浦激光和探测激光光斑的重合程度。如上就是Pioneer-ONETDTR采用的双色激光泵浦探测方案，此方案能更好去除泵浦光对探测光信号的干扰，以实现更高的信噪比和抗干扰性。采集到的方案经过昊远精测专业热传导分析软件平台Therm ...
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