梯度折射率透镜（一）梯度折射率透镜与普通透镜不同，是一种非均匀介质构成的透镜，在其内部折射率是连续变化的。1815年英国物理学家Maxwell建立的鱼眼透镜理论是近代梯折光学的基础。而光纤的问世促进了梯折光学理论的发展和梯度折射率材料的试制。1971年，英国光学家 D.T.Moore 设计了梯折单透镜的成像光组，并计算出它的初级像差，成为较早的梯折透镜设计理论。而梯度折射率材料的使用，给光学设计带来了更多的自由度，并可以使光学系统结构简化，减小了体积和重量。本篇主要介绍梯度折射率介质的分类以及梯度折率透镜的像差校正原理，下一篇则会从公式和理论方面更加详细地介绍梯度折射率介质。一、梯度折射率介质 ...
光具有不同的折射率,波长短者折射率大。 光学系统多半用白光成像，白光入射于任何形状的介质分界面时，只要入射角不为零,各种色光将因色散而有不同的传播途径,结果导致各种色光有不同的成像位置和不同的成像倍率。这种成像的色差异称为色差。通常用两种按接收器的性质而选定的单色光来描达色差。对于目视光学系统，都选为蓝色的 F光和红色的C光。色差有两种。其中描述这两种色光对轴上物点成像位置差异的色差称为位置色差或轴向色差,因不同色光成像倍率的不同而造成物体的像大小差异的色差称为倍率色差或垂轴色差。如下图,轴上点A发出一束近轴白光,经光学系统后，其中F光交光轴于 A'F,C光交光 轴于 A'C。 ...
光具有不同的折射率,波长短者折射率大。 光学系统多半用白光成像，白光入射于任何形状的介质分界面时，只要入射角不为零,各种色光将因色散而有不同的传播途径,结果导致各种色光有不同的成像位置和不同的成像倍率。这种成像的色差异称为色差。通常用两种按接收器的性质而选定的单色光来描达色差。对于目视光学系统，都选为蓝色的 F光和红色的C光。色差有两种。其中描述这两种色光对轴上物点成像位置差异的色差称为位置色差或轴向色差,因不同色光成像倍率的不同而造成物体的像大小差异的色差称为倍率色差或垂轴色差。校正了位置色差的光学系统，只能使二种色光的像点或像面重合在一起，但二种色光的焦距并不一定就此相等，使这二种色光可能 ...
在驱动电压下折射率连续变化，实现对入射光的相位调制。但由于液晶的一些特性，驱动电压改变量和相位改变量是非线性关系，实际使用中需要测量并确定相位调制特性曲线。现介绍一种相位分析方法——白光干涉法，来确定LCOS芯片的相位调制特性曲线。白光干涉法采用迈克尔孙干涉仪的结构，在参考镜前设置补偿玻璃板（同LCOS芯片前的玻璃板），消除对光路的影响，从而使参考光和反射光达成白光干涉条件。分析干涉图可得到LCOS芯片的相位轮廓，进而分析相位调制的特性曲线。上图为白光干涉法的装置示意图。白光由确定中心波长的卤钨灯发射，经毛玻璃散射。然后由线偏振片获得与LCOS液晶指向矢平行的偏振方向。然后分束镜将透射光分为两 ...
上是透过率或折射率的周期性变化。当被入射平面光波照射时，出现的波前表现出相位或振幅的周期性。这种周期性，将平面波的角分布，衍射光栅产生的光会表现出不同的传播角度，而这些角度是完全依赖的。反射Bragg光栅的设计，如果采用紫外诱导，光栅的性能特点和相位掩膜周期有关，那对于衍射光栅，设计原理却有所不同。对于二维周期结构衍射光栅，光通过光栅的透射过程主要和入射光介质和衍射光介质部分的折射率有关。如下面的图所示上面图中，每个红色小柱子间的间距，就是栅周期，光从整个图的底部射入，栅周期约为几个微米。可以在纤芯内部以一定的间距做出多个衍射光栅，通过多层衍射光栅，在纤芯内行进的部分光经第①组多层衍射光栅衍射 ...
从而引起材料折射率和增益系数的改变，也会使激光器的发射波长以阶梯形式跳跃变化。关于昊量光电昊量光电 您的光电超市！上海昊量光电设备有限公司致力于引进国外先进性与创新性的光电技术与可靠产品！与来自美国、欧洲、日本等众多知名光电产品制造商建立了紧密的合作关系。代理品牌均处于相关领域的发展前沿，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、精密光学元件等，所涉足的领域涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防及前沿的细分市场比如为量子光学、生物显微、物联传感、精密加工、先进激光制造等。我们的技术支持团队可以为国内前沿科研与工业领域提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等优质服务 ...
成的具有不同折射率的高纯 SiO2。光棒成品的质量及特性（如纯度、强度、有效折射率、衰减程度）对光纤有重大影响。光纤预制棒由芯棒和包层组成，其芯棒有多种生产方式，主要原理是基于气相沉积法，当前普遍采用：改进的化学气相沉积法（MCVD）、轴向气相沉积法（VAD）、棒外化学气相沉积法（OVD）和等离子化学气相沉积法（PCVD）四大主流工艺。光棒外部包层制造一般采用套管法（早期是 RIT，后来演进为 RIC）和全合成法（OVD、VAD）。图3.预制棒拉丝流程拉制：预制棒制备完毕后，需要对预制棒进一步做拉丝处理。拉伸炉使预制棒在高温下（2000~2200℃）熔融，在重力的作用下往下垂，并形成细丝，经直 ...
个晶体方向的折射率，从而改变 有效波片的延迟。如图 2 所示，一个简单的幅度调制器的几何结构由一个偏振器、一个用于零延迟的电光晶体切割和一个分析器组成。输入偏振器保证光束与晶体主轴成 45° 偏振。晶体充当可变波片，随着施加电压的增加，将出射偏振从线偏振（从输入旋转 0°）变为圆偏振、线偏振（旋转 90°）、圆形等。分析仪仅透射已旋转的出射偏振分量，从而分别产生 0、0.5、1 和 0.5 的总透射率。传输和应用场之间的关系不是线性的，而是具有 sin2 依赖性。为了获得线性幅度调制，这些调制器通常以 50% 的传输率进行偏置，并且仅在施加的小电压下工作。偏置调制器的两种方法是一种，通过偏置三 ...
小点厚度测量高数值孔径目标问题严重的问题是用于确定薄膜厚度的干涉信号的对比度降低。在高数值孔径物镜中，光线在胶片中以不同角度折射（见图1），因此光线在胶片材料中的路径长度不同。这意味着它们具有不同的相位差。一旦不同的光线组合在一起并且相位叠加在探测器上，相长干涉峰/谷和相消干涉峰/谷之间的对比度就会减弱。这种影响的严重程度取决于具体的胶片叠层和数值孔径。但是，一般来说，效果随着厚度的增加而增加。图 1 大数值孔径(NA) 的小光斑测量NA 如何影响厚度测量在硅氧化物测量示例中很容易看出效果。 200nm氧化物的UVVis反射光谱（200-1000nm）的模拟如图2 所示。它显示光谱随着NA 的 ...
异质结构厚度测量基于ZnO的异质结构用于LED应用。在异质结构中使用多对相同的层来放大光发射。使用MProbe UVVisSr系统(200nm -1000nm)测量层的厚度并验证其光学色散。该结构具有重复60次(ZnO/Al2O3) × 60次的ZnO和Al203层对。为了确定ZnO和Al2O3的光学常数，测量了这两种材料的两厚样品。图1 厚氧化铝样品的测量:模型与测量的拟合。测定了Al2O3的厚度和光学常数。测量厚度:269 nm(光色散见图2)图2 测量所得Al2O3的光学色散。色散用柯西近似表示图3 Al2O3薄样品。从厚Al2O3样品测定的光学色散在这里被用来验证样品的性质是有效的薄膜 ...
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