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层:HTL(空穴传输层)、EML(电子迁移率)或空穴阻塞层和ETL(电子传输层)。图1 OLED的结构示意图构成OLED结构的薄膜的计量是至关重要的。MProbe UVVis和MProbe UVVis- msp提供了一种廉价、可靠、非接触的计量方法。可以测量材料的厚度和光学常数。MProbe UVVis可以测量毯状(无图案)样品，MProbe UVVis-msp可以使用非常小的光斑尺寸在像素级进行测量。一、测量实例图2玻璃上ITO(透明导电氧化物)的测量-使用参数化ITO模型确定厚度和光学常数图3 ITO上html层的测量-测量了ITO和html的厚度图4 测量ITO上的EML层-测量ITO和 ...
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