射和远红外漫反射光谱被用于测试固体物质的晶格能的振动特性,可帮助我们从微观的角度来分析其微观特性,并且在固有属性和结构-性质规则方面提供更多的创新视角。拉曼光谱通过使用XperRam Compact(Nanobase)光谱仪在室温下进行测试,所用激发光源为633nm。NMS陶瓷晶体的拉曼散射光谱如图1所示,图1(a)所示样品的拉曼峰都很相似,基线都很平坦,并且振动峰都很尖锐。根据群论分析结果,空间群为P21/n的晶体应该有24个拉曼有源振动模式(12Ag+12Bg)。然而,在实际的拉曼峰中,只有12个峰被检测到,这是因为拉曼有源峰的叠加以及设备分辨率的影响。在100-270cm-1位置处,主要 ...
法包括:单次反射光谱分析测试方法,多次反射光谱分析测试方法和激光谐振腔测试方法等。光谱测量方法中有很多因素会影响透射率和反射率精度,这些因素主要包括:第一,被测样品的口径大小。当样品小于光斑尺寸时,需要采用光阑来限制光束的大小。第二,被测样品楔形角的影响。为减小该因素的影响,可以使光束尽量准直,并且尽量采用大口径的积分球探测器。第三,光线偏振效应。尽量让样品垂直放置,并且加上偏振测试装置。第四,光谱仪的光谱分辨率。选择合适的分辨率,滤光片要求较高的分辨率。第五,空气中某些充分吸收带的影响。比如空气中的二氧化碳吸收,解决措施是样品室里面充氮气。第六,被测样品后表面的影响。测试透过率时不可避免引入 ...
其结果被称为反射光谱。 测量物体的反射光谱也是使用高光谱成像最常用的方法。高光谱图像提供了目标物体的三维信息高光谱图像使用成像光谱仪来收集光谱信息,这种设备也被称为高光谱相机。我们用高光谱相机来测量成千上万的光谱,而不是单一的谱段。用所采集的光谱数据,行扫描绘成目标图像;这样,每个像素都包含完整的光谱信息。 我们可以通过对应位置和光谱信息分析出结果。另外, 还可以从目标物体的任意位置获取信息, 这意味着会有大量的数据;高光谱数据也被称作数据立方体,因为高光谱信息是三维的。您可以通过我们的官方网站了解更多的产品信息,或直接来电咨询4006-888-532。 ...
反射-近红外反射光谱。卤素光源为土壤样品提供一致的照明,接触式探头附件以56°的视角测量反射率。将每个样品放入三个培养皿中(每个培养皿的深度为2厘米,直径为5厘米)。用刮刀将培养皿中的土壤轻轻地调平,形成光滑的土壤表面,从而保证了最大的光谱信噪比。在光谱采集之前和期间,仪器由100%陶瓷参考面板手动校准。每个土壤样品获得30个光谱,并将其平均成一个光谱,用于进一步的数据分析。获得原始反射光谱,然后转换为吸光度单位(log10(1 / R),其中R代表反射率数据)。MIR光谱收集在4000-650 cm–1光谱范围,光谱分辨率和采样间隔为 4 cm–1和 2 cm–1。在对每个样品进行光谱扫描之 ...
k模型参数的反射光谱来确定,不断调整这些数据,直到计算反射率和测量反射率相匹配。n和K的建模有许多数学模型描述波长的函数n和k。为某种薄膜选择模型时,在准确描述相关波长范围n和k的情况下,变量越少越好。一般来讲,不同材料(如:电介质,半导体,金属和非金属)的光学常数随波长有很大的不同,需要不同的模型来描述。电介质 (K=0)模型通常有三个变量,而非电介质有五个或更多的变量。下面的例子,是两层薄膜结构的模型,共考虑了18个可变量。柯西:拟合参数:A,B,C(共3个)无定形半导体:拟合参数:(共5,9或13个)晶状半导体:拟合参数:(共4,7或10个)如果您对膜厚测量有兴趣,请访问上海昊量光电的官 ...
750) 的反射光谱。椭圆偏光法对非常薄的薄膜更敏感,两种不同的偏振测量提供双倍信息用于分析。此外,椭圆偏光法可进行多种不同入射角度的反射光谱测量,因而产生更多分析信息。而由昊量光电代理膜厚测量仪可提供的光谱反射系统。如果您不确定光谱反射法还是椭圆偏光法更适合您的需要,请与我们联系。如果光谱反射法不能满足您的要求,我们将非常高兴地为您引荐梢圆偏光法的有名厂商。如果您对膜厚测量有兴趣,请访问上海昊量光电的官方网页:https://www.auniontech.com/three-level-56.html更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电:上海昊量光电设备有限公司是光电产品 ...
光学方法,如反射光谱法和椭偏法。在某些情况下,例如当薄膜生长在透明的衬底上时,这些光学技术可能具有挑战性,不能提供准确的结果。蓝宝石上硅(SOS)薄膜就是一个例子。对于原子薄的二维(2D)材料,原子力显微镜(AFM)是常用的厚度测量方法,然而,AFM是耗时的,并且只能给出不同位置之间的相对厚度差异。光学对比也是表征多层二维材料(如石墨烯3、4和过渡金属二卤化物(TMDs))层数的强大工具。然而,光学对比方法仅限于极少数(<10−15)层。拉曼光谱是一种基于光在材料振动模式下的非弹性散射的光学光谱技术,常用于表征薄膜和原子层材料拉曼光谱在物理化学中用于指纹材料,探测结构和结晶度,非接触式温 ...
11 测量的反射光谱(放大部分如图所示)。反射率约0.3%的振荡/条纹表明存在PR。由于散射,振幅很小。图12 印制板上PR的测量。峰表示PR的厚度(45.54um),尽管光谱中的特征很弱,但峰十分清晰。了解更多详情,请访问上海昊量光电的官方网页:https://www.auniontech.com/three-level-56.html更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电:上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商,产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等,涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等 ...
在拼接铝上的反射光谱。图3 采用厚膜算法测量(12.7 μm)的结果-假设对二甲苯X折射率由于我们不知道我们使用的折射率是否正确,我们需要验证模型与测量数据的拟合。这将使我们能够更准确地确定折射率和厚度。为了测量涂层,我们首先需要测量未涂层的铝,以确定聚对二甲苯涂层下的膜堆。测量结果如图4所示。我们从这个测量中得到了几个信息:a).有一层氧化铝层(≈72 nm)b).表面粗糙度为≈30 nmc).该铝样品的反射率为标准抛光铝的约40%。所有这些信息都包含在模型中,以达到良好的拟合,并将用于我们的zui终模型的聚二甲苯堆栈。图4 该模型与未涂覆铝的测量结果吻合良好为了检查我们使用厚膜算法对聚对二 ...
不同点测得的反射光谱图2 测量结果的实例厚度是通过将硅化层模型拟合到测量数据来确定的图3 测量结果示例(薄层)。厚度是通过将硅化层模型拟合到测量数据来确定的图4 测量结果示例(厚层)。厚度是通过将硅化层模型拟合到测量数据来确定的图5 测量了沿注射器筒的硅层厚度分布图6 测量硅化层厚度分布-测量旋转注射器图7 测量未涂覆(上二)和涂覆/硅化(下三)3ml注射器桶的反射光谱。涂层为~150nm图8 注射器筒上硅化层厚度测量结果。模型与实测数据的拟合硅化瓶与注射器类似,玻璃小瓶内部是硅化的,以防止药物与玻璃中的掺杂剂/污染物发生反应。这种涂层的厚度通常比注射器薄。图9 标有测量点的小瓶表1 测量结果 ...
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