中文：四分之一波片；英文：quarter-wave plate

（PBS）与四分之一波片（λ/4）进入光学腔，然后与光学腔谐振，然后通过反射到达光电探测器，偏振分束棱镜（PBS）与四分之一波片（λ/4）的作用就是让腔反射光进入探测器。然后对反射光信号进行相位解调，得到反射光中的频率失谐信息，产生误差信号，然后通过低通滤波器和比例积分电路处理后，反馈到激光器的压电陶瓷或者声光调制器等其他响应器件，进行频率补偿，最终实现将普通激光锁定在超稳光学腔上。关于PDH技术的理论细节可以在一些综述论文和学位论文中找到。为了实现PDH锁定，需要一些专用的和定制的电子仪器，包括信号发生器，混频器和低通滤波器。Moku:Lab的激光锁盒集成了大部分的PDH电子仪器，在提供高精 ...

的构成顺序为四分之一波片(QWP)→全息光学元件(HOE)→偏振分光片和四分之一波片(PBS&QWP)→线偏振片(LP)。由波导片入射进pancake的线偏振光经第一个四分之一波片(QWP-1)转化为圆偏振光，然后大多数光线透射穿过全息光学元件(入射光与HOE的第一次交互，此时入射角不满足布喇格条件，所以透射为主)，然后经过四分之一波片和偏振分光片(PBS&QWP-2)共同作用反射回全息光学元件发生衍射作用(此时反射回的入射角满足布喇格条件)，全息光学元件开始展现出反射镜的功能，使得光反射回后续光路(经典pancake的原理见附录)。(3) 全息光学元件制作。在AR系统里，数字 ...

析仪之前添加四分之一波片。在没有四分之一波片的情况下将调制器偏置到 50% 传输所需的电压是调制器的四分之一波电压。它具有与横向相位调制器的四分之一波电压类似的形式。由于这些晶体双折射的温度依赖性，这种简单的几何形状对于大多数电光晶体来说是不实用的。这种依赖性将温度相关的波片引入调制器。因此，使用双折射非线性介质（例如 LiNbO3）的未补偿调制器的传输将表现出显着的热漂移。这种温度敏感性可以通过稳定单晶调制器的温度或使用两个相同的晶体来克服。第二种方案采用光学串联放置的两个等长晶体，它们的主轴相对于彼此旋转 90°，如图 3 所示。因此，光束的偏振分量在两个折射率区域中的每一个中传播相等的路 ...

转。如果使用四分之一波片，入射的线偏振光状态可以改变为圆偏振或椭圆偏振。在光谱仪前放置另一个偏振器(分析仪)和一个波片，以选择所需的散射光偏振分量。所述分析仪的角度设置为使具有特定偏振的光子通过；由于光栅光谱仪的吞吐量可以产生显著的偏振依赖性，从而使信号的偏振依赖性发生显著扭曲，因此采用半波片来保持进入光谱仪的信号的偏振方向相对于光栅槽方向不变。由于大多数光学元件都有一定程度的偏振依赖性，因此在设计光学系统时必须谨慎，以获得准确的结果。例如，由于s偏振和p偏振的反射率不同，入射到镜子上的光应该是纯s偏振或p偏振，以避免由于反射而引入椭圆偏振。即使如此小心，也不能完全排除光学元件的退极化效应。物 ...

（PBS）与四分之一波片（λ/4）进入光学腔，然后通过反射到达光电探测器，偏振分束棱镜（PBS）与四分之一波片（λ/4）的作用就是让腔反射光进入探测器。然后对反射光信号进行相位解调，得到反射光中的频率失谐信息，产生误差信号，然后通过低通滤波器和PID（比例积分电路）处理后，反馈到激光器的压电陶瓷或者声光调制器等其他响应器件，进行频率补偿，最终实现将普通激光锁定在超稳光学腔上。关于PDH技术的理论细节可以在一些综述论文和学位论文中找到。为了实现PDH锁定，需要一些专用的和定制的电子仪器，包括信号发生器，混频器和低通滤波器。Moku的激光锁盒集成了全部的PDH电子仪器，在提供高精度的激光稳频功能上 ...

S、半波片、四分之一波片、电光晶体和反射镜组成。反射镜安装在压电陶瓷上，以补偿腔长的长期变化。当X轴偏振光束发射到AM-EOM时，半波片将光束旋转45°，以获得Z轴和X轴上相等的分量。由于双折射效应，光束沿椭圆偏振，在四分之一波片和中旋转传播。仔细调整波片后，当反射光束到达时，大部分激光功率仍停留在X轴上。PBS1作为一个分析仪，在Z轴向外反射激光功率。当调制电压加载在上时，Z轴和X轴之间的激光功率比发生变化，导致损耗调制。这种腔体设计保证了两个EOM在不同的工作模式下工作。一个EOM作为损耗相关的驱动器，另一个EOM作为相位相关的驱动器，以减少不良影响，实现完全稳定。超低噪声频率梳的布局如图 ...

一个可旋转的四分之一波片)的对比度调整。迄今为止所描述的所有磁光现象都是基于可见频率范围内光与磁化的相互作用。因此我们称克尔效应、V光效应和梯度效应是常规磁光效应的主要内容。类似于传统效应的效应也存在于较短的x射线波长。对x射线磁光效应的探索是一个年轻得多的科学领域。虽然在软X射线范围内，由于在吸收边缘附近发生共振增强，这种影响可能更大，但对反射或透射X射线的偏振状态的检测则更为复杂。对与样品相互作用后的X射线进行偏振分析，以检测X射线法拉第效应、纵向克尔效应、透射或反射中的Voigt效应，需要一套复杂的反射计。这就是为什么与X射线有关时，主要是进行强度测量而不是偏振分析，即测量吸收系数或反射 ...

，该技术通过四分之一波片（QWP）和旋转线性偏振片（RLP）插入相移，根据旋转线性偏振片的方位角进行连续采集，在恒定旋转速度下，选择具有相等角度间隔的三个角度，在恒定时间内得到三幅图，用于测量纳米材料厚度，结构如下图所示。三步相移成像椭偏仪结构示意图其中，使用QWP和RLP插入相移。由于相移图像是根据RLP的方位角连续采集的，所以这种方法属于时间相移技术。由于具有公共光路，时间相移技术相比空间相移技术具有更高的精度。如果您对椭偏仪相关产品有兴趣，请访问上海昊量光电的官方网页：https://www.auniontech.com/three-level-56.html相关文献：1薛利军, 李自田 ...

片，半波片与四分之一波片等。利用这些器材，我们就可以着手开始验证其产生光子对的偏振纠缠性。图11 验证光路示意图图12 实际光路我们搭建了如图所示的光路，我们首先使用可见光源与功率计将准直器对准。然后更换为1550nm偏振光源与功率计，分步加入偏振片、半波片与四分之一波片并调整角度，zui后更换为光子源，单光子探测器与计数器，光子源的信号光与闲置光将分别经过光纤，通过四分之一波片、半波片与偏振片，zui后由探测器探测，由计数器进行符合。我们保持光路光路其他波片固定，通过转动其中一个半波片并固定，我们可以在计数器中看到符合计数产生了变化。随着半波片的旋转，符合计数也随之发生正弦变化。本次实验中， ...

偏振分束器和四分之一波片(1/4 Waveplate)进行分离。探测激光在延迟平台后为水平偏振方向，完全通过偏振分束器，到达样品前后经过四分之一波片，偏振方向由水平变为竖直，在返回至偏振分束器时被完全反射。③由于探测激光信号非常微弱，少量泵浦激光到达光电探测器会严重影响测量结果。因此，在光电探测器前放置蓝光滤光片(Blue Filter)，对波长为532nm的泵浦光进行再次滤波，有效去除其对探测光的干扰。④反射出来的探测激光经过焦距为300 mm的平凸透镜聚焦在另一个光电探测器的光敏面上，该探测器与锁相放大器相连，用于采集实验信号。⑤另外，通过铝膜反射镜将光线反射至CCD相机，可以观察样品表面 ...