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定制型高精度薄膜波片
（五）-相位延迟量测量的实验数据实验中，在前述测试系统上用上述几种方法测量了两片样品的位相延迟。两测试样品标称值分别为：630.2nm附近的λ／2波片和532.4nm附近的λ／4波片。光谱扫描曲线见图1，测量数据见表1、2。图1 光谱法测630.2nm附近λ／2波片的扫描曲线前面误差分析表明，光谱法测量λ／2波片的误差zui小，因而可以作为参考标准，其它方法测量结果可以与之相比较。由测量结果可见，光谱法与Soleil补偿器法测得结果的偏差约为0.19%，两种方法在误差范围内符合很好，得到了相互印证。而两种光强法的测量结果比照光谱法及Soleil补偿器法测量结果差异较大。而且按照之前推导的公式无 ...
测量波片相位延迟量的原理波片是基于晶体双折射性质的偏振器件，在光线技术、光学测量以及各种偏振光技术等领域具有广泛的应用，其中1/4波片及1/2波片在偏振器件中应用尤其广泛。测量波片相位延迟量的方法主要有：光强探测法、旋光调制法、半阴法、光学补偿法等。这些方法主要基于对光强的测量，容易受光源的不稳定及杂散光的干扰，精度受到一定的限制，测量误差一般在0.5°左右。本文从理论上分析了利用椭偏仪测量波片相位延迟量的可能性，讨论了其测量精度及误差来源，并利用消光式椭偏仪测量了1／4波片以及1／2波片相位延迟量。实验表明：测量过程不受光强波动的影响，方法简单，操作方便，精确度高，测量波片相位延迟量精度达0 ...
- 波片相位延迟量测量误差分析影响波片相位延迟量测量准确度的因素主要有：标准1／4波片的偏差及待测波片快轴与入射面夹角θ的误差等，下面从公式(4)出发，讨论两者误差对波片测量延迟量的影响：（一）当标准1／4波片和待测1／4波片的相位延迟量都是理想的90°时，得到δ与θ的关系如图1所示，θ的变化范围是-4°至＋4°。可见，当标准1／4波片和待测1／4波片在理想情况下，待测1／4波片的方位角θ不影响其相位延迟量测量。图1当标准1／4波片理想时待测波片δ与其方位的角θ的关系(二）实际上，由于波片受温度，及制作工艺的影响，其相位延迟量不可能是理想的90°。若待测1／4波片的相位延迟量为88.8°，标准 ...
即0对应相位延迟量为零，1对应相位延迟量为2pi。光栅制作单个光斑方法1：易于控制X和Y方向的周期数量 %% 光栅 % X和Y方向的斜面，取值范围0-1 [x, y]= meshgrid(linspace(0, 1, 512)); % 光栅的数量 M = 3; N = 4; % 叠加光栅后，X方向周期为3，Y方向周期为4 z = M*x+N*y; z = mod(z, 1); imshow(z);方法2：对光栅偏转的角度大小更加方便 %% 直接输入偏转角度，计算光栅 theta = pi/6; % X方向周期为cos(tehta) % Y方向周期为sin(theta) z = x/cos(th ...
1和2的相位延迟量；R(ε)为各光学元件的旋转矩阵，其中ε可以表示入射面与双旋转补偿器的快轴方向的夹角 C1、C2，也可以表示入射面和起偏器、检偏器的透光轴方向的夹角P和A；Sin为入射光束的Stokes向量，为[1000]T。将上式展开，可得对应像素采集的光强信号表达式，利用Hadamard分析，可以从谐波系数中求出待测样品对应像素处的Muller矩阵元素。2018年，韩国汉阳大学应用物理系研究出一种双反射椭偏成像系统，对两个样品的偏振态变化进行比较，提供两个样品差异的非零图像。该系统以一种样品为基准，另一个为测试样品，去除了调零过程，图像获取速率可以达到摄像机的zui高帧率，提高了测量速度 ...
对准或者测量延迟量和方位角。塞纳蒙(Senarmont)法是一种传统的应力分布测量方法。其优点是经济，容易调准，即使使用低质量的波片也有很高的精度。下面是其光路图：2.2塞纳蒙法测量偏振器件之间的关系由穆勒矩阵和斯托克斯矢量给出，类似上面。zui终分析光强，即可得到延迟大小。当然，关于双折射的应用还有很多，比如圆偏光器，光弹调制器法，光学外差法，用相移法的二维双折射测量等等，此次不再介绍，可根据实际工程需求，进行了解。如果您对双折射测量有兴趣，请访问上海昊量光电的官方网页：https://www.auniontech.com/three-level-54.html更多详情请联系昊量光电/欢迎直 ...
量波片宽波段延迟量变化[J].激光技术,2012,36(2):258-261.4赵振堂,林天夏,黄佐华,何振江.利用消光式椭偏仪精确测量波片相位延迟量[J].激光杂志,2012,33(3):8-9.5程一斌,侯俊峰,王东光.组合波片的椭圆率角测量方法[J].北京理工大学学报,2019,39(7):750-755.6于德洪,李国华,苏美开,宋连科.任意波长云母波片位相延迟的测量[J].光电子．激光,1990,1(5):267-269.7徐文东,李锡善.波片相位延迟量精密测量新方法[J].光学学报,1994,14(10):1096-1101.8薛庆文,李国华.半阴法测量λ/4波片的相位延迟[J]. ...
得到180°延迟量；(b)Glan棱镜应用于扩展光束光路中会导致消光比的损失；(c)Glan棱镜的制造缺陷通常会带来3～6分的光束偏离，若扩展光束光强分布不均匀(例如灯丝像分布)，那么在旋转检偏器的时候会出现严重的问题。由之前测量结果可见，此类误差对旋转检偏器的方法测量会造成巨大的影响。综合上述分析可见，实验条件下各参量测量误差及带宽影响不是影响测量精度的主要因素，测量误差主要来源于Glan棱镜的光束偏离及其应用于扩展光束中的消光比损失等造成的影响。由此可见，光强法对光路及光学元件等要求较高，在本文所采用实验系统中难以获得较高的测量精度。了解更多详情，请访问上海昊量光电的官方网页：https: ...
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