折射式望远镜物镜一般说,望远镜物镜的视场较小,例如大地测量仪器中的望远镜,视场仅 1~2度;天文望远镜的视场则是以分计的;而一般低倍率的观察用望远镜,视场也只在10 度以下。但物镜的焦距和相对孔径相对较大,这是为保证分辨率和主观亮度所必需的,可认为是长焦距、小视场中等孔径系统。因此,望远镜物镜只需对轴上点校正色差、球差和对近轴点校正彗差,轴外像差可不予考虑,其结构相对比较简单,一般有折射式望远镜物镜、反射式望远镜物镜、折反射式望远镜物镜,这篇文章主要介绍折射式望远镜物镜。这类物镜要达到上述像质要求并无困难,但要求高质量时,要同时校正二级光谱和色球差就相当不易。后者常只能以不同程度地减小相对孔径 ...
穷大能量时的折射率,Eg,A,B,C则为正的常数;10.形模型 为了在较宽的频谱上表达物质的光学常数,一般需要考虑上述多种模型,则可以得到:L(E)为某些特定的线形,例如高斯线形、洛伦兹形、临界点线形等, B(E)为能量缓变的背景。如果您对椭偏仪相关产品有兴趣,请访问上海昊量光电的官方网页:https://www.auniontech.com/three-level-56.html更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电:上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商,产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等,涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国 ...
膜层的厚度及折射率和 吸收系数,检验膜层的均匀性,帮助鉴别膜层组分,测量物质的折射率和消光系数,研究各种表面层和表面过程,诸如氧化、腐蚀、吸附、润滑、催化等。因此,椭偏光仪在许多工业部门和基本研究中都可应用。(1)固体薄膜光学性质的测量应用椭偏术可对单层吸收膜、双层膜及多层膜进行测量,得到材料的光学常数折射率N和吸收系数K,进而得到其介电常数。近年来也实现了对离子注入损伤分布的测量、超晶格、粗糙表面、界面的测量。(2)物理吸附和化学吸附用椭偏术方法在现场且无损地研究过与气态、液态周围媒质相接触地表面上吸附分子或原子形态的问题。(3)界面与表面的应用椭偏广泛用于研究处于各种不同环境中的材料的表面 ...
的光学常数、折射率等参数的信息,并进一步推断材料的结构和性质。例如,通过不同偏振状态下的光强变化,可以研究材料的各向异性和光学吸收行为。光偏振在MOKE显微镜中起到了重要的作用,在进行磁光克尔显微镜测量时,我们得充分考虑光偏振的影响,并合理利用光偏振来优化实验条件。如果您对磁学测量相关产品有兴趣,请访问上海昊量光电的官方网页:https://www.auniontech.com/three-level-150.html更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电:上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商,产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等,涉及应用涵盖了材 ...
介质之间存在折射率、形状、位置等差异而导致的部分能量被反射或透射出去的现象。耦合损耗与两个介质之间的匹配程度有关,一般随着匹配程度的提高而减小。光纤损耗的主要影响因素有以下几个方面:光纤材料:光纤材料的选择和制造工艺会影响光纤的吸收损耗和散射损耗。一般来说,玻璃光纤比塑料光纤具有更低的吸收损耗和散射损耗,但也更容易受到弯曲和断裂的影响。因此,需要根据不同的应用场景和要求来选择合适的光纤材料。光信号波长:光信号波长会影响光纤的吸收损耗、散射损耗和弯曲损耗。一般来说,较短的波长会导致较大的吸收损耗和散射损耗,而较长的波长会导致较大的弯曲损耗。因此,需要根据不同的光纤类型和特性来选择合适的光信号波长 ...
样品的厚度和折射率的分布情况,横向分辨率可 以达到10μm。该系统采用彩色CCD摄像机,将来自样品表面的反射光的每个偏振转换为强度分布,该强度分布是膜厚度和折射率的函数;并且将强度 分布显示为颜色分布,当样品的折射率均匀时,样品的厚度变化就可以快速表现为颜色的差异。该系统虽然利用不同滤光片产生三种波长的单色光,可以进行三波长测量,但是无法得到样品的宽光谱信息。2004 年,法国的 Boher 等设计出一种光谱椭偏成像系统,采用白光源和四个滤光片分别得到不同波长的单色光波,横向空间分辨率也已经优于10μm。德国的Nanofilm公司研制了一种通过更换滤光片来获取多个波长下样品参数的光谱椭偏成像系 ...
常用的液体有折射率为1.5左右的香柏油和某些更高折射率的液体,后者可使数值孔径达到1.5。由于数值孔径只能在1左右变动,光学显微镜的极限分辨距与所用色光的波长同一数量级。浸液物镜需要把浸液作为物方介质来专门设计。为充分利用物镜的分辨率,使已被物镜所分辨的物体细节能被眼睛看清,显微镜必须有恰当的放大率,以便把细节放大到足够使人眼能分辨的程度。分别取2’和4’为人眼分辨角的下限和上限,则人眼在明视距离处能分辨开二点的间距即为被显微镜放大以后的像,有对于目视光学仪器,主色光的波长为0.00055,则500A< M <1000A满足此公式的放大率称为显微镜的有效放大率。可见,该有效放大率被 ...
的通信波导的折射率对比度和色散提供了有效方法,并且能够提供有效的光谱分辨率,从而获得波导的色散指数。除此之外,椭偏成像技术可以用于对导电聚合物膜层的研究,通过椭偏成像可以获得聚合物层的空间分布信息和不同厚度层的显著形态差异。 此外,椭偏成像还应用在原位测试方面。例如对界面氧化层变化的分析可以显示氧化层厚度变化,精确到纳米级 。对于水媒质中油滴到达石英固体表面上时形貌的变化,椭偏成像能够准确地测定在液滴和界面之间发生薄膜排水时液滴轮廓的变化。该技术对厚膜和薄膜的测量都很敏感,无需扫描表面,可实时生成薄膜轮廓。到目前为止,椭偏成像技术在纳米材料检测方面已经取得长足的进步, 椭偏光谱成像已经可以对复 ...
退偏。线性双折射是指线偏光的两个正交分量的折射率差,圆偏光双折射是指左旋和右旋偏振光之间的折射率的差值。衰减则定义为偏振光zui大zui小透过率差值的比值。总之,有6个参数来表征非退偏样品的延迟和衰减特性,线性位相延迟器的大小,线性位相延迟器和圆偏光位相延迟器的快轴角度,线性衰减器的大小,线性位相衰减器和圆偏光衰减器的角度。(4)PEM光弹调制器是一种基于光弹效应的共振偏振调制器。光弹效应是由机械应力导致的透明介质固体中的线性双折射。光弹调制器发明于1960年。其中设计zui成功的光弹调制器包括了一个矩形的熔石英和一个有单晶石英制成的压电传感器。PEM是由各向同性的光学材料制成的,如石英等。P ...
体,引起材料折射率的变化。这种折射率的变化使穿过材料的光发生偏转。通过应用时变声波,偏转角度可以迅速改变,允许快速和精确的扫描激光束。AOD可用于扫描x和y轴的激光束,包括任意感兴趣的路径,可以提供样品的高速,高分辨率的扫描。这可以显著提高共聚焦和多光子显微镜的成像深度和速度,使实时捕获代谢过程和其他动态过程成为可能。此外,AOD可用于调制激光束的强度,从而可以在光栅扫描期间执行消光,这有助于进一步提高分辨率。在声光偏转器中,压电换能器在材料中产生布拉格光栅。光阑只允许经过衍射的光束通过。由G&H提供。综上所述,声光和其他有源光子元件集成到显微镜中的zui新发展开始解决共聚焦和多光子显 ...
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