;所在空间的折射率。相关文献:《几何光学 像差 光学设计》(第三版)——李晓彤 岑兆丰更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电:上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商,产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等,涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等;可为客户提供完整的设备安装,培训,硬件开发,软件开发,系统集成等服务。您可以通过我们昊量光电的官方网站www.auniontech.com了解更多的产品信息,或直接来电咨询4006-888-532。 ...
义与最后一个折射面切向的平面作为我们的图像空间参考平面,它将起到与RSOS中出瞳平面相同的作用。在这个平面上,我们将建立我们的x-y坐标,它位于点o处的系统光轴中心。在物体空间中,我们选择参考平面作为物体平面本身。使用上述定义的坐标原点,考虑以下畸变成像系统:假设我们有一个物点,在近轴物面上。设点是最终图像空间中的理想图像点。设Σ'为来自P经过坐标原点O的光线的波前,设S为中心为,半径为O的参考球。令来自P的光线中的另一条射线r分别在点处与S和Σ'相遇,并在点P’处与最终像面相遇。坐标P’分别为(x ,y, z), (ξ,η),且光线r的方向余弦值为(L,M,N)。 为最后一个 ...
地测量厚度、折射率及消光系数。只要将Semiconsoft 系统插入您电脑的USB接口,就能开始测量。整个系统只需要几分钟来设定,只需要基本的电脑知识就能测量。这种简单的硬件系统和直观的软件为所有新用户提供了薄膜知识。从近红外到紫外 系统能在波长200纳米到1700纳米 范围内测量厚度从1纳米到1.8毫米的薄膜。Semiconsoft 系统可测量几乎所有常用材料做成的透光薄膜。容易操作的软件用户能很快地掌握Semiconsoft软件熟悉而又友好的界面。测量一次大约一秒。测量数据,及测量细节能够非常容易地通过标准Windows文件存盘和输出。另外,公开的 NET 程序非常 容易地让其他软件来控制 ...
上,上半部分折射率为n1,下半部分折射率为n2,光会在界面处发生反射和折射,如下图所示。示意图 单色光在各向同性且材质均匀的界面上的反射和折射其中Eip、Erp和Etp分别为p光的入射、反射和折射电矢量,Eis、Ers和Ets分别为s光的入射、反射和折射电矢量,θ1和θ2为入射角和折射角。光波电矢量可以分解为振动方向平行于入射面的p光和振动方向垂直于入射面的s光。分别定义p光和s光的反射系数rp和rs,由麦克斯韦方程组和边界条件,能够推导出p光、s光的反射系数与介质折射率、入射角和折射角的关系,即菲涅耳反射系数。如果您对椭偏仪有兴趣,请访问上海昊量光电的官方网页:https://www.aun ...
由各层薄膜的折射率、消光系数和膜层厚度等参量决定,故可表达为式中:n1、n2和n3分别为空气、薄膜和衬底的折射率;k2和k3分别为薄膜和衬底的消光系数。通过对Ψ和Δ的拟合,可以得出被测物体的参量。椭偏技术按采样原理可以分为消光式和光度式 ,也称为零椭偏法与非零椭偏法。消光式椭偏测量方法在每一个波长通过旋转起偏器和补偿器后寻找到合适的角度,使经样品反射后的偏振光为线性偏振光,然后调整检偏器角度产生消光效果后,记录此时检偏器和起偏器相对于入射平面的角度,计算出样品对应的参数。光度式椭偏测量方法则是对探测器接收到的光强进行傅里叶分析,推导出所测样品的特性,并不需要测量角度,尽可能排除了人为误差,测量 ...
也被称为圆双折射效应。V oight和Cotton和Mouton在顺磁液体中发现的磁双折射现象。这些效应被称为线性磁双折射。Williams以及Fowler和Fryer首先应用磁光成像技术来实现磁畴的可视化,这些都是基于Kerr效应。由于克尔显微镜的这些较早的应用,连续的系统发展大大增强了传统克尔技术的能力。通过干涉层的应用实现了显著的对比度增强,但克尔显微镜的突破是随着20世纪80年代视频显微镜和数字图像处理的引入而来的。自20世纪50年代以来,法拉第显微镜也主要用于磁性柘榴石薄膜和正铁氧体的透射实验,由于法拉第效应比克尔效应强得多,因此不需要电子对比度增强。基于Voigt效应的透射显微镜也 ...
但对于透明或折射率差异小的样品,其对比度和分辨率较低。对蓝藻和绿藻而言,绿藻主要含有叶绿素,可以用蓝光有效地激发。蓝藻含有藻胆体,最好用绿光激发。根据不同色素的吸收特性,可以生成伪彩色图像,以区分蓝藻和绿藻。Lumencor的光引擎是通过一些列的固态光源(LED、自研发光管和激光器)构成的,每个光源的数量、波长、带通、光功率和工作模式都可以针对应用的需求为客户量身定制,拥有一流的亮度、稳定性和独特的定量电子控制系统,满足客户对于不同波长激发光的多种需求。下图就是运用该技术检测在北卡罗来纳州Betz湖所提取的水样并生成的伪色彩图像。由美国国家环境保护局公共卫生与环境评估中心的Robert Zuc ...
诱导了圆形双折射,因此,两种圆形光模式在通过半导体传播时经历了不同的相移,这导致入射线偏振光的偏振面旋转。图2.4.2 K时n↑= 1.5·1017 cm−3和n↓= 0.5·1017 cm−3的Kerr旋转谱图2为根据图1的吸收系数计算得到的克尔旋转光谱期望值。克尔旋转仅在砷化镓带隙附近是非零的。此外,在频谱的中间存在一个符号反转。这表明正确的光子能量的选择对GaAs中pMOKE测量起着至关重要的作用。实验发现,不同样品的克尔旋转光谱略有不同。因此,在n-GaAs样品上进行pMOKE测量的第1步是优化探针激光束的光子能量。zui重要的是,对于一个固定的光子能量,克尔旋转角θK与GaAs导带的 ...
二维电子系统中砷化镓的磁光克尔效应除了本体砷化镓的自旋注入实验外,二维电子系统的自旋注入实验进行光学测量并不像在大块GaAs样品上进行pMOKE测量那么简单,因为2DEG对称性的降低可能会严重影响光学选择规则,从而影响pMOKE的强度。事实上,研究表明,在狭窄(约10 nm宽)的GaAs/(Al,Ga)As量子阱(QW)系统中,约束势迫使价带中重空穴态的轨道角动量和自旋角动量向垂直于QW平面的面外方向运动。此外,约束提升了Γ-point处重空穴态和轻空穴态的简并性,将轻空穴带移至较低能量处(见图1)。考虑到这两个因素,只有面外极化重空穴才能促进与导电带电子的复合过程。这对磁光过程有重大影响。在 ...
应、磁线阵双折射、塞曼效应、磁光克尔效应等。(1)磁光法拉第效应磁光法拉第效应又称磁光旋光效应,是指当一束线偏振光从磁光材料沿磁场方向透射时,由于材料折射率的不同,磁光材料中的左旋和右旋偏振光,即偏振面相对于入射光的偏振面偏转一定角度的一种磁光现象。法拉第效应产生的根本原因是磁光材料中的电子等磁性粒子发生光学跃迁。在磁场的作用下,这种跃迁使得在磁光材料内部传输的左旋圆偏振光和右旋圆偏振光产生一定的色散差,导致zui终透射光的偏振面相对入射光旋转了一定角度。(2)磁线振双折射当一束线偏振光以垂直于磁场方向的方向从磁光材料传输时,线偏振光被分解成两个偏振光,两种偏振光在材料中以不同的相速度传播,即 ...
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