膜厚测量原理（五）-台式薄膜测量系统的应用

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膜厚测量原理（五）-台式薄膜测量系统的应用

使用Semiconsoft公司的先进光谱系统，可以很快、很容易地测量厚度、折射率及消光系数。只要将Semiconsoft 系统插入您电脑的USB接口，就能开始测量。整个系统只需要几分钟来设定，只需要基本的电脑知识就能测量。这种简单的硬件系统和直观的软件为所有新用户提供了薄膜知识。 

从近红外到紫外

系统能在波长200纳米到1700纳米 范围内测量厚度从1纳米到1.8毫米的薄膜。Semiconsoft 系统可测量几乎所有常用材料做成的透光薄膜。

容易操作的软件 

用户能很快地掌握Semiconsoft软件熟悉而又友好的界面。测量一次大约一秒。测量数据，及测量细节能够非常容易地通过标准Windows文件存盘和输出。另外，公开的 NET 程序非常 容易地让其他软件来控制我们的测量软件。

变复杂为简便的测量 

测量和计算的反射光谱都被显示出来，这样很容易判断测量的完整性。测量的n和k曲线也可以。

半导体制程薄膜 

实验室研究/制程

Semiconsoft测量系统通常用于测量氧化物，氮化物，光阻，及其它半导体制程薄膜的厚度，粗糙度，和光学常数。除了单层薄膜应用，许多两层和三层膜也可以测量。例如，SOI应用中的硅基上的多晶硅/二氧化硅薄膜。下边的屏幕显示一个典型建模结构的 测量结果。

在线测量

灵活的光学探头装置使在线厚度测量成为可能。需要的只是光纤接入以便测量垂直入射光反射率。请与我们联系以便了解更详细的与您的设各相接的信息。

光学镀膜

防刮伤和/或减反涂层是薄膜在很多工业中的应用。汽车塑料，镜片和很多塑料包装都使用薄膜。对硬涂层，一般先涂底漆以提高薄膜的附着力。Semiconsoft 系统能够同时或分别测量这些薄膜层的厚度，即使样品背面有涂层也无妨。

平板显示应用

合适的聚酰亚胺和光刻胶厚度对平板显示器的生产至关重要。除了测量这些材料，Semiconsoft系统还测量空的或充满的液晶间隙厚度。

了解更多关于膜厚测量系列详情，请访问上海昊量光电的官方网页：

https://www.auniontech.com/three-level-56.html

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上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等，涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等服务。

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