四波剪切干涉仪是由一个二维光栅和CCD组成，光束经过二维光栅后，能量主要分布在四个一级光上。一级光相互干涉形成干涉条纹，经过傅里叶变换，在傅里叶平面上，除了零级光外，大部分能量应该集中在一级光上。通过分析一级光，获取相位梯度。
光束入射角度对于一级光斑位置的影响
四波剪切干涉仪是由一个二维光栅和ccd组成，光束经过二维光栅后，能量主要分布在四个一级光上。一级光相互干涉形成干涉条纹，经过傅里叶变换，在傅里叶平面上，除了零级光外，大部分能量应该集中在一级光上。通过分析一级光，获取相位梯度。
这里主要观察的是随着光束的入射角度变换，是否会引起傅里叶平面上一级光的位置发生改变。
为了方便起见，假设光栅是正弦形状，其中a表示光栅周期
入射光场描述为，
当光束经过光栅后，传播一段距离d，传播过程使用菲涅尔光束传播的方程计算
根据SID4的参数，将赋给其中一些变量参数，默认单位为um
那么在正负25um的范围内可以看到光强图如下所示，在这段距离内，差不多显示的就是光栅形状。因为正负25um是两个光栅的周期，一个光栅周期显示两个亮斑，所以横向与竖向都接近四个光斑
对上述光场求解光强，然后做傅里叶变换，观察一级光的位置
光强分部zui终为
对光强进行傅里叶变换，并且简化后得到
公式中体现了九个光斑，零级光，以及周围的八个一级光。然后看他们所在的位置都仅仅与光栅周期相关，与其他参数没有任何关系。zui后是入射光束的梯度，他是位于e指数之上，他是一个复数指数，并且和坐标系x和y无关，都是符合事实的。
所以，一级光斑的位置是不会随着入射角而发生变化，他是一个固定的位置。
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