MD激光测距传感器（绝对距离测量）
MD激光测距传感器系列只对自身发出的光源敏感，因此不受外界环境光等干扰。同时可测量各种颜色、材质的物体，即使是半透明或者透明物体，仍不会影响测量结果。
1.通过集成光学原理实现超高精度的测量
基于调频连续波（FMCW）的
相干接收原理，研发出独特的调
制解调技术，用于高精度的测距。通
过与精确控制的参考光路进行比对，
可实现微米级的远距准确测距。
基于硅基光电集成技术，把
相干检相光路和参考光路集成在芯片
里。同时，一体化的光学封装技术将
半导体激光器和探测器集成到一个统
一的光学传感模组上
2.非凡的抗干扰性和稳定性
a.不受材质颜色、环境光等干扰
MD激光测距传感器系列只对自身发出的光源敏感，因此不受外界环境光等干扰。同时可测量各种颜色、材质的物体，即使是半透明或者透明物体，仍不会影响测量结果.
b.同轴测量无死角
传统三角法测量原理在深孔等测量时，由于接收不到反射光而导致无法测量。MD系列激光同轴位移传感器，是采用同轴测量的方式，光收发一体化，因此不会产生因死角导致的无法测量区域。
3.MD激光测距传感器可实现各种测量
4.MD激光测距传感器技术参数
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