XRF射线装置利用X射线荧光原理测量镀层和成分。样品被来自射线管的射线轰击，产生荧光。通过荧光的能量我们可以知道样品中存在哪些元素，通过XRF的强度我们可以分析获得样品的厚度和每个元素的成分。
能量分辨率、检测效率和鲁棒性是与检测器相关的三个因素。 能量分辨率是分离具有小能量差的两个光子的能力。 检测效率是指 X 射线记录的效率。我们提供的 XRF 系统使用硅漂移探测器的固态探测器技术。
当样品的荧光被收集，配套应用软件会将测量的X射线强度转为厚度和成分。软件包通常包含两部分，波谱处理和定量分析。
智能化设计，强大的分析：
几秒内完成金属镀层无损分析
成分分析可达25种元素
同时测量多达五个涂层，所有涂层都可以是合金
基础参数法 - 半定量分析厚度与成分
轻松设置和操作 - 通过USB完成连接
简洁的前控制面板
占地面积小，节约空间
轻量化设计，便于移动
直观的用户界面：
提供分析灵活性，同时减少用户出错机会
专业的 Archer 软件
直观的图标引导用户界面
强大的定性/无标样分析功能
功能强大的标准片库
可定制快捷键，方便操作
灵活的数据显示和导出
强大的报告编辑生成器
性能，强大，便利：
紧密耦合的几何设计极大提高测量效率和精度
经验证的固态探测器可提供更高的分辨率，稳定性和灵敏度
仪器预热时间短，X射线管灯丝寿命长
可实现银、锡的L线薄膜分析
多位置一次滤波器与多规格准直器可供选择
灵活的焦距为复杂形状或厚度较大的样品提供测量便利
模块化组件设计，维护简单
** 我们提供多种系列产品满足用户不同的测量需求，详情可咨询上海昊量光电设备有限公司。
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